Blog de la compañía Reciclar la placa de evaluación del convertidor de datos ADI: Convertidor combinado ADC/DAC, ADC, DAC

Placa de evaluación del convertidor de datos ADI: Convertidor combinado ADC/DAC, ADC, DAC

Shenzhen Mingjiada Electronics Co., Ltd.es un reciclador de renombre mundial de componentes electrónicos. A través de servicios de reciclaje profesionales para ayudar a los clientes a realizar el valor de los componentes electrónicos inactivos, con una sólida fortaleza económica y un sistema de servicio perfecto, ganó la confianza y cooperación a largo plazo de muchos clientes de fábrica y comerciantes.

Proceso de reciclaje:

1. Clasificación de inventario y presentación de lista

Los clientes primero categorizan el stock excedente, identificando los números de modelo, marcas, fechas de producción, cantidades, formatos de embalaje y condiciones de embalaje. Las listas de inventario detalladas se pueden enviar a nuestro equipo de evaluación por correo electrónico o fax.

2. Evaluación profesional y cotización

Al recibir la lista, nuestra empresa completa una evaluación inicial y proporciona una propuesta de cotización en un plazo de 24 horas.

3. Firma de contrato y acuerdo logístico

Tras el acuerdo de precio, se ejecuta un contrato de reciclaje formal para aclarar los detalles de la transacción.

4. Inspección de mercancías y pago rápido

A su llegada a nuestro almacén, las mercancías se someten a una verificación de calidad final. Tras una inspección exitosa, el pago está garantizado en un plazo de tres días hábiles para asegurar una rápida recuperación de capital. Los métodos de pago flexibles incluyen transferencia bancaria, efectivo u otros acuerdos adaptados a los requisitos del cliente.

I. Placa de evaluación del convertidor combinacional ADC/DAC: Solución de verificación de cadena de señal integrada

La placa de evaluación del convertidor combinacional ADC/DAC integra componentes centrales de conversión analógico-digital (ADC) y conversión digital-analógica (DAC). Algunas variantes incorporan además microcontroladores (MCU), gestión de reloj y circuitos de interfaz, formando un sistema completo de adquisición de datos y generación de señales en bucle cerrado. Esto lo hace adecuado para escenarios de verificación a nivel de sistema que requieren procesamiento de señales bidireccional. El valor central de estas placas de evaluación radica en replicar los flujos de la cadena de señal del mundo real, lo que permite a los ingenieros validar rápidamente el rendimiento cooperativo de los dispositivos combinados, minimizando al mismo tiempo la interferencia y los errores asociados con las configuraciones de componentes discretos.

Tomando como ejemplo la placa de evaluación EVAL-ADUCM300QSPZ correspondiente al ADuCM300 de ADI, esta placa sirve como una plataforma de evaluación de sistema de adquisición de datos integrada diseñada específicamente para aplicaciones automotrices e industriales. Incorpora ADC duales de 20 bits Σ-Δ junto con un subsistema MCU completo. Si bien no cuenta con un DAC independiente integrado, sus amplios periféricos en chip e interfaces expandibles permiten la evaluación colaborativa con DAC externos. Esto constituye fundamentalmente una solución de evaluación combinada centrada en ADC con soporte DAC. La placa cuenta con un zócalo LFCSP de 32 pines para una rápida inserción y reemplazo de componentes, complementado con interruptores e indicadores LED para ayudar a la depuración. Se proporcionan proyectos de código de muestra, que cubren funcionalidades básicas como la configuración de periféricos, la adquisición de señales y la transmisión de datos.

Los puntos fuertes centrales de la placa de evaluación residen en su alta integración y adaptabilidad al escenario. Admite un amplio rango de voltaje de suministro de 3,6 V a 18 V y opera dentro de un rango de temperatura de -40 °C a +125 °C, totalmente compatible con el estándar automotriz AEC-Q100. Esto permite el uso directo en la validación de la cadena de señal para aplicaciones automotrices como la transmisión y el diagnóstico de la carrocería. El procesamiento posterior de las señales del sensor se realiza a través del procesador Arm Cortex-M3 integrado, con datos transmitidos a través de una interfaz LIN. Esto reduce significativamente los requisitos de componentes externos, proporcionando una validación práctica para diseños de cadena de señal combinados compactos y de alta fiabilidad.

II. Placa de evaluación ADC: El punto de referencia para la adquisición de señales de alta precisión

Diseñada específicamente para la validación del rendimiento del convertidor analógico-digital, la placa de evaluación ADC emplea circuitos de suministro de energía optimizados, sistemas de reloj de bajo ruido, interfaces de entrada precisas y módulos de transmisión de datos estandarizados. Este diseño maximiza la eliminación de interferencias externas, reproduciendo fielmente las métricas centrales del ADC, como la resolución, la frecuencia de muestreo, el rango dinámico (SFDR) y la relación señal-ruido (SNR). ADI ofrece placas de evaluación para ADC en varios rangos y grados de precisión, que cubren aplicaciones de ultra alta velocidad, alta precisión y baja potencia para satisfacer diversas necesidades, desde la inspección industrial hasta las comunicaciones por radar.

La placa de evaluación AD9625-2.0EBZ ejemplifica las capacidades de evaluación de ADC de alto rango dinámico de ADI. Diseñada específicamente para el ADC de ultra alta velocidad de 12 bits y 2,0 GSPS AD9625, sirve como una herramienta de validación central para aplicaciones de radar e instrumentación de alta gama. Con una arquitectura totalmente diferencial, la placa incorpora un ancho de banda de entrada optimizado y conectores SMA para una integración de señal de alta frecuencia sin problemas. Una fuente de reloj de ultra bajo jitter integrada admite la conmutación bidireccional entre la referencia interna y las entradas de reloj externas, lo que garantiza la pureza del reloj de muestreo prístino y garantiza el rendimiento del ADC a altas frecuencias de muestreo. La transmisión de datos emplea la interfaz serie de alta velocidad JESD204B, que se interconecta sin problemas con plataformas de procesamiento FPGA a través de conectores FMC estándar. Cuando se utiliza con el software adjunto, permite el análisis intuitivo de las características espectrales en diferentes frecuencias de entrada, cuantificando con precisión las métricas dinámicas clave como SFDR (típicamente >70 dBc) y SNR.

En aplicaciones prácticas, el AD9625-2.0EBZ valida rápidamente la capacidad del ADC para capturar señales débiles en entornos con fuerte ruido e interferencia. Encuentra un amplio uso en sistemas avanzados de radar y contramedidas electrónicas, analizadores de señales vectoriales, estaciones terrestres de comunicación por satélite y escenarios similares. Para la investigación universitaria y los entornos de laboratorio, esta placa de evaluación también proporciona una plataforma de prueba de grado industrial y del mundo real para cursos de tecnología de conversión de datos de alta velocidad, lo que facilita la integración de la teoría con la práctica de la ingeniería.

III. Placa de evaluación DAC: Una plataforma de verificación para la generación de señales de alta fidelidad

La placa de evaluación DAC se centra en verificar el rendimiento de los convertidores digital-analógicos. A través de una interfaz de entrada digital optimizada, circuitos de gestión de reloj y módulos de controlador de salida, permite el control y la medición precisos de las señales de salida del DAC. Los parámetros de verificación centrales incluyen el ancho de banda de salida, el rango dinámico libre de espurias (SFDR), la distorsión de intermodulación (IMD) y el consumo de energía. Las placas de evaluación DAC de ADI abarcan toda la gama de productos, desde radiofrecuencia (RF) hasta frecuencia intermedia (IF), y desde configuraciones de un solo canal hasta multicanal, que atienden a aplicaciones de alta gama como infraestructura de comunicación inalámbrica, sistemas de radar e instrumentación.

La placa de evaluación para el AD9176 sirve como la solución de referencia para la evaluación de DAC de RF de alto rendimiento. Diseñada específicamente para el DAC de RF de doble canal, 16 bits y 12,6 GSPS AD9176, admite la verificación de generación de señales para aplicaciones inalámbricas multibanda. La placa cuenta con una interfaz JESD204B de 8 hilos y 15,4 Gbps que admite modos de operación de banda única y multibanda. Cada DAC de RF incorpora tres canales de entrada de datos multiplexados derivables con una velocidad de datos multiplexados máxima de 3,08 GSPS. También integra un multiplicador de reloj PLL en chip de alto rendimiento y un filtro de interpolación configurable, lo que permite la síntesis de frecuencia de hasta 6 GHz. A través de un diseño dedicado de baja espuria, logra −83 dBc IMD3 de doble señal y<−80 dBc SFDR a 1,84 GHz, cumpliendo con los requisitos de generación de señales de RF de alta precisión.

La placa de evaluación EVAL-AD9142, correspondiente al producto clásico AD9142, está dirigida a diseños TxDAC+ de doble canal de 16 bits y 1600 MSPS. Integra el chip de distribución de reloj AD9516 y el modulador en cuadratura ADL5372, lo que permite la evaluación colaborativa rápida de DAC y moduladores IQ. La placa admite filtros de interpolación configurables 2×, 4× y 8× con un sesgo de retardo inherente mínimo (<2 DAC clock cycles). Achieving SFDR>85 dBc a un ancho de banda de 300 MHz, es adecuado para la verificación de la cadena de transmisión de señales en estaciones base 3G/4G, repetidores de banda ancha y aplicaciones de instrumentación.

IV. Criterios de selección y escenarios de aplicación para las placas de evaluación de la categoría III

Las placas de evaluación del convertidor de datos de la categoría III de ADI están diseñadas para diversos requisitos de procesamiento de señales. Sus distinciones centrales y escenarios aplicables se resumen de la siguiente manera:

La placa de evaluación combinada ADC/DAC se centra en una cadena de señal integrada, ideal para el desarrollo a nivel de sistema que requiere la adquisición de datos y la generación de señales simultáneamente. Esto incluye sistemas de control de bucle cerrado industrial y la verificación del enlace sensor-actuador en la electrónica automotriz, lo que reduce eficazmente la complejidad de la integración del sistema. Las placas de evaluación ADC priorizan la verificación del rendimiento de la adquisición de señales, sirviendo como herramientas críticas para el desarrollo de equipos del extremo del receptor como radares, osciloscopios y registradores de datos. Los criterios de selección clave incluyen la pureza del reloj, el ancho de banda de entrada y el rango dinámico. Las placas de evaluación DAC se centran en la calidad de la generación de señales, atendiendo a dispositivos del extremo del transmisor, como estaciones base, generadores de señales y transmisores de radar. Los factores de selección centrales son el ancho de banda de salida, la distorsión espuria y la velocidad de datos.

Además, todas las placas de evaluación ADI proporcionan soporte de documentación técnica completo, incluidos manuales de usuario, hojas de datos, código de ejemplo y controladores. Ciertas placas de evaluación de alta gama (como la ADS7-V2EBZ) también son compatibles con plataformas de desarrollo FPGA, lo que admite la verificación del protocolo de interfaz de alta velocidad y el desarrollo de algoritmos personalizados, mejorando así aún más la flexibilidad en los escenarios de evaluación.