Blog de la compañía Placa de evaluación de generación de reloj ON Supply: Generador de reloj PLL, Buffer de retardo cero

Placa de evaluación de generación de reloj ON: Generador de reloj PLL, Buffer de retardo cero

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Placa de evaluación del generador de reloj PLL: La piedra angular de la síntesis de frecuencia precisa

Los sintetizadores de frecuencia de bucle de fase bloqueada forman el núcleo de la generación de relojes programables de alta precisión. Las placas de evaluación del generador de reloj PLL de ON Semiconductor (como la NB4N507ADEVB) demuestran su destreza técnica en la síntesis de frecuencia.

Tomando la placa de evaluación NB4N507ADEVB como ejemplo, está diseñada específicamente para evaluar el sintetizador de reloj PECL NB4N507A. El diseño de la placa encarna la facilidad de uso y la flexibilidad:

Diseño de hardware: Los interruptores deslizantes integrados permiten un control conveniente de los niveles lógicos para los pines de selección del multiplicador (S0, S1) y el pin de habilitación de salida (OE), lo que reduce la necesidad de cableado adicional. Los conectores SMA proporcionan puntos de prueba RF estándar para interfaces de entrada y salida auxiliares.

Fuente de alimentación y compatibilidad: Admite una sola fuente de alimentación de 3,3 V o 5,0 V, o fuentes de alimentación separadas, lo que garantiza una amplia compatibilidad.

Diseño y proceso: Utiliza material de placa Getek para controlar la impedancia de la línea de transmisión de 50Ω, minimizando el ruido, logrando un alto ancho de banda y reduciendo la diafonía. Esto asegura que los resultados de la evaluación reflejen con precisión el rendimiento inherente del chip.

Dichas placas de evaluación permiten a los ingenieros validar rápidamente el rendimiento de la fluctuación del sintetizador al generar frecuencias específicas (por ejemplo, 100 MHz, 156,25 MHz requeridos para PCIe, Ethernet), sirviendo como punto de partida para la construcción de sistemas de reloj de referencia de enlace serie de alta velocidad.

Placa de evaluación de buffer de retardo cero: Guardián de la coherencia de la temporización

Los buffers de retardo cero son críticos en aplicaciones que requieren múltiples dominios de reloj síncronos, como servidores y equipos de red. Mantienen la alineación de fase entre la entrada y la salida mientras generan múltiples copias de reloj, logrando un 'retardo cero' (más precisamente, un retardo fijo y predecible). ON Semiconductor ofrece múltiples placas de evaluación ZDB, como la NB3W800LMNGEVB para el dispositivo NB3W800L.

Las soluciones ZDB de ON Semiconductor (como la NB3N1200K/NB3W1200L) están profundamente optimizadas para aplicaciones críticas como PCIe:

Salidas de alto rendimiento: Proporcionan 12 salidas diferenciales HCSL/NMOS push-pull, optimizadas para 100 MHz y 133 MHz, cumpliendo totalmente con las estrictas especificaciones de fluctuación de fase de PCIe Gen 2/3 e Intel QPI.

Baja EMI y retardo controlable: Admite la funcionalidad de espectro ensanchado para reducir la interferencia electromagnética, con retroalimentación fija pseudo-externa para minimizar la variación del retardo de entrada a salida.

Configuración flexible: Cada salida posee un pin de control de función independiente, lo que permite a los usuarios configurar funciones como el espectro ensanchado a través de la interfaz I²C.

Selección de versión: El NB3W1200L sirve como una variante de baja potencia, adecuada para sistemas de eficiencia energética con líneas de transmisión más cortas (<20 pulgadas); mientras que el NB3N1200K emplea salidas HCSL estándar para mantener la integridad de la señal en distancias de transmisión extendidas.

Usando la placa de evaluación correspondiente, los ingenieros pueden verificar si la fluctuación adicional introducida por el buffer permanece dentro del presupuesto en múltiples condiciones de carga, y validar la mejora del EMI del sistema lograda por su funcionalidad de espectro ensanchado.

Escenarios de aplicación típicos: Impulsando la infraestructura digital moderna

Las soluciones de chips compatibles con las placas de evaluación de reloj de ON Semiconductor sirven a sectores con demandas de temporización extremas:

Centros de datos y servidores: Esto representa el ámbito de aplicación más crítico para las placas de evaluación. Aquí, las soluciones de reloj deben cumplir con los estrictos requisitos de fluctuación de los buses PCIe y QPI/UPI. La placa de evaluación verifica si el generador de reloj y el ZDB pueden entregar relojes prístinos a las CPU, GPU, SSD NVMe e interfaces de red, asegurando la confiabilidad de las interconexiones de datos de alta velocidad. Se ha demostrado que la solución de ON Semiconductor cumple y supera los requisitos de las generaciones PCIe 1 a 3.

Equipos de comunicación de red: Las estaciones base 4G/5G, las redes de transporte óptico y los dispositivos Ethernet síncronos requieren relojes de fluctuación ultra baja para el muestreo de datos y la sincronización de protocolos. La placa de evaluación facilita la verificación de las capacidades del chip de reloj para filtrar la fluctuación de entrada y generar múltiples relojes sincronizados, cumpliendo con los estrictos estándares de telecomunicaciones como ITU-T G.8262.

Computación de alto rendimiento y pruebas y mediciones: En estos dominios, la estabilidad del reloj a largo plazo y el bajo ruido de fase son primordiales. La placa de evaluación permite a los ingenieros caracterizar con precisión el rendimiento del chip de reloj en amplios rangos de temperatura, estableciendo la base de temporización para instrumentos de precisión y sistemas informáticos.