Placa de evaluación de interfaces ON: Interruptor analógico, USB Tipo-C, Optoacoplador
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Los productos principales incluyen: circuitos integrados, chips 5G, IC de nueva energía, chips IoT, chips Bluetooth, chips automotrices, IC de IA, IC Ethernet, chips de memoria, sensores, módulos IGBT, etc.
【Placa de evaluación de interruptores y multiplexores analógicos: una plataforma de verificación de precisión y alta velocidad】
La función principal de la placa de evaluación del interruptor analógico es permitir a los ingenieros medir con precisión y conveniencia los parámetros dinámicos mientras verifican el rendimiento dentro de las rutas de señal de alta velocidad.
Las placas de evaluación de interruptores de carga de la serie Amperir de ON Semiconductor (como la NPS4053 EVB) ejemplifican este enfoque.
Características clave del diseño: La filosofía de diseño de la placa es fundamentalmente centrada en el usuario. Incorpora una amplia gama de puntos de prueba que incluyen GND, V(IN), V(OUT), FLG (Indicador de falla) y ON (Habilitar), lo que facilita la conexión directa a las sondas del osciloscopio para la captura de forma de onda en tiempo real. Su característica más distintiva son las conexiones Kelvin Sense – puntos de prueba dedicados y aislados V(IN)_Sense y V(OUT)_Sense. Al medir la caída de voltaje de entrada a salida para calcular R(ON), este método de medición de cuatro cables elimina los errores introducidos por la resistencia del cable de prueba, lo que permite mediciones de resistencia en estado activo altamente precisas.
Escenarios de aplicación: Estas placas de evaluación se emplean ampliamente en la prueba de circuitos de gestión de energía, el análisis de la dinámica de conmutación de carga y dentro de sistemas de enrutamiento de señal digital analógica o multiplexada de precisión con estrictos requisitos de integridad de la señal y consumo de energía.
【Placas de evaluación de controladores USB Tipo-C y PD: herramientas esenciales para dominar protocolos complejos】
La interfaz USB Tipo-C integra datos de alta velocidad, video de alta definición y suministro de alta potencia, lo que implica una intrincada negociación de protocolo, gestión de roles de puerto y administración de contratos de energía. Las placas de evaluación sirven como herramientas indispensables para los desarrolladores, proporcionando un entorno experimental seguro para explorar todas las funcionalidades.
ON Semiconductor ofrece diversas soluciones de evaluación que van desde módulos de función única hasta sistemas completos.
Placa de evaluación de interruptor de protección contra sobretensión (OVP): Tomando como ejemplo la FUSB252GEVB, está diseñada para probar la funcionalidad de protección contra sobretensión de los puertos Tipo-C. Los ingenieros pueden integrarla en un sistema que contenga un controlador Tipo-C (como el FUSB301/FUSB302) y una fuente de voltaje de prueba. Los puntos de prueba de pines CC integrados y los indicadores LED permiten a los desarrolladores probar y observar directamente si el dispositivo se desconecta correctamente del host en varios escenarios de OVP, verificando así la fiabilidad del mecanismo de protección.
Kit de evaluación de energía multipuerto multifunción: Para aplicaciones que requieren una gestión de energía compleja, como bases de carga multipuerto, el STR-USBC-4PORT-200W-EVK de ON Semiconductor ofrece una solución robusta. Este kit de evaluación USB Tipo-C de cuatro puertos y 200W es totalmente compatible con la especificación USB PD 3.0. Su valor radica en la integración de un controlador de puerto USB PD, un interruptor de protección de alto voltaje y un controlador de alimentación reductor, complementado con una fuente de alimentación frontal AC/DC que cuenta con protección contra sobrecorriente y térmica. Cuando se utiliza con el software de interfaz gráfica de usuario (GUI) Strata Developer Studio de ON Semiconductor, los ingenieros pueden:
Configurar de forma flexible las políticas de energía: Establecer límites máximos de potencia y corriente para cada puerto, junto con la asignación de energía total a nivel del sistema y la gestión de energía garantizada.
Monitoreo y pruebas integrales: Ejecutar pruebas de transmisión de distribución de energía, pruebas de compensación de cable y monitorear los datos de telemetría del sistema.
Simular fallas: Experimentar con varios escenarios de fallas y retroceso para garantizar la robustez del diseño.
Esta solución integrada de hardware y software proporciona una referencia de extremo a extremo para el diseño de suministro de energía PD en productos como computadoras portátiles, monitores y estaciones de acoplamiento.
【Optoacoplador y placa de evaluación alternativa avanzada: tendiendo puentes de aislamiento confiable】
Los optoacopladores tradicionales se emplean ampliamente para el aislamiento de señales, pero sufren problemas como el envejecimiento y la deriva de temperatura. Si bien ofrece soluciones de evaluación de optoacopladores convencionales, ON Semiconductor también lidera la evolución hacia tecnologías más confiables. Por ejemplo, la tecnología de 'emulador de optoacoplador' demostrada por el módulo de evaluación ISOM8610DFGEVM de Texas Instruments (TI) representa una nueva generación de soluciones de aislamiento.
Comparación técnica y tendencias: Este 'emulador' emplea tecnología de aislamiento capacitivo de dióxido de silicio (SiO₂), que ofrece compatibilidad de pines con los optoacopladores tradicionales para una sustitución directa, al tiempo que ofrece mejoras significativas en el rendimiento. La tabla a continuación contrasta claramente las diferencias fundamentales entre las dos tecnologías:
Consideraciones de diseño de la placa de evaluación: El diseño de la ISOM8610DFGEVM demuestra flexibilidad de evaluación. Los puentes (por ejemplo, J3, J4) permiten una configuración sencilla de la salida como un interruptor de lado alto o de lado bajo para adaptarse a diversas topologías de circuito. Además, la placa incorpora posiciones de montaje de componentes no soldadas (DNP), lo que permite a los usuarios ajustar la corriente de entrada reemplazando resistencias (por ejemplo, R1, R2) o probar diferentes cargas resistivas/capacitivas agregando capacitores (C1). Esto facilita la verificación exhaustiva del rendimiento del dispositivo en aplicaciones específicas.
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